半导体器件高可靠性测试实验项目

常有客户前来咨询东沃生产供应的TVS二极管是否能过高温反向偏压试验。高温反向偏压试验是高可靠性测试实验项目之一，决定器件的稳定性和可靠性。东沃电子是一家专业的电路保护器件厂家，所生产供应的产品均符合行业标准。毋庸置疑，东沃电子TVS二极管能够轻松过高温反向偏压试验。除了高温反向偏压试验之外，还有哪些高可靠性实验项目呢？

1）耐焊接热试验（Solder Resistance Test）：将器件引线浸入熔融的260℃土5℃的焊料中10土2S, 浸至距壳体1/16 土32处。

2）可焊性试验（Solderability Test）： 245℃士5℃，5秒。

3）拉力实验（Pull Test）：对引线施加1kg，保持10秒。

4）弯曲实验（Bend Test）：用0.5kg力对引线进行90土5度弯曲，共3次。

5）高温反向偏压试验（High Temperature Reverse Bias Test）：在100℃的情况下，施加80%额定电压，1000小时（OJ）；在125℃的情况下，施加80%额定电压，1000小时（GPP）。

6）正向寿命实验（Forward Operation Life Test）：在25℃的情况下，通入额定电流，1000小时。

7）间歇工作寿命实验（Intermittent Operation Life Test）：开态：额定功率5分钟；关态：冷风吹5分钟，共1000循环。

8）高压蒸煮试验（Pressure Cooker Test），设定温度下 24 小时。 

9）温度循环试验（Temperature Cycling Test）：在-55℃/+155℃下，保持 30 分钟，转换时间 5 分钟，共 20 个循环。 

10）热冲击试验（Thermal Shock Test）： 0℃ /5 分钟，100℃ /5 分钟，共 10 循环。

11）正向浪涌试验（Forward Surge Test）：8.3毫秒单向正弦半波。

12）恒温恒湿试验（Humidity Test）：85℃， 85%相对湿度，1000小时。

13）高温存储寿命试验（High Temperature Storage Life Test）：150℃，1000小时。

详情参考文献：MIL-STD-750D。关于半导体器件高可靠性实验项目知识就分享到这儿，想了解具体信息，可咨询东沃电子：137 5773 6996（微信同号）余工。